WPA-200 系列相位差應力儀是由日本 Photonic Lattice 公司以光子晶體制造技術開發(fā)的光學測量產品，以下是其詳細介紹：

特點

• 操作簡便與測量快速：操作簡單易懂，測量速度快，可在 3 秒內完成一次測量，能極大提高檢測效率.

• 視野廣闊與一次測量：采用 CCD camera，能夠對視野范圍內的樣品進行一次性測量，從而全面掌握應力分布情況，減少測量誤差和不確定性.

• 數(shù)據(jù)直觀呈現(xiàn)：測量數(shù)據(jù)以二維分布圖像的形式展示，用戶可以更直觀地讀取數(shù)據(jù)，并且還具備多種分析功能以及測量結果的比較功能，幫助用戶更好地理解和評估樣品的雙折射和應力情況.

• 維護成本低：儀器不含旋轉光學濾片的機構，降低了維護成本和復雜度.

技術參數(shù)

• 輸出項目：可輸出相位差（單位：nm）、軸方向（單位：°），通過選配功能還可實現(xiàn)相位差與應力換算（單位：MPa）.

• 測量波長：有 520nm、543nm、575nm 等多個測量波長可供選擇.

• 雙折射測量范圍：0 - 3500nm，適用于多種材料的雙折射測量，部分型號可拓展至 10000nm.

• 測量最小分辨率：0.001nm，具有較高的測量精度.

• 測量重復精度：小于 1nm（西格瑪），保證了測量結果的可靠性和穩(wěn)定性.

• 視野尺寸：標準視野尺寸為 218x290mm - 360×480mm，不同的選配鏡頭可能會有不同的視野范圍.

應用領域

• 光學材料研究：可用于評估各類光學薄膜（如反射膜、增透膜等）的性能，以及分析新型光學晶體的雙折射特性，為光學材料的研發(fā)和生產提供重要的參數(shù)支持1.

• 顯示技術：在液晶顯示器（LCD）面板和有機發(fā)光二極管（OLED）的生產中，可檢測面板中的相位差分布，幫助研發(fā)和優(yōu)化光學層，提高顯示質量.

• 塑料制品行業(yè)：能夠測量透明塑料制品中的應力分布，評估產品質量，為改進塑料加工工藝提供依據(jù)，減少雙折射現(xiàn)象對產品性能的影響.

• 半導體制造：可用于檢測硅片等半導體材料的雙折射，確保半導體材料符合制造要求，提高半導體器件的性能和可靠性.

• 科研領域：在物理學研究中，可用于探究光與物質相互作用時的雙折射現(xiàn)象；在生物醫(yī)學研究中，可提供細胞和組織的光學特性分析，為相關研究提供有力的工具.