5G時代的到來催生材料的變革與需求，新技術(shù)的出現(xiàn)對材料提出新的性能要求，包括微波介質(zhì)陶瓷、PCB材料、半導(dǎo)體材料、手機天線材料、手機外殼材料、電磁屏蔽材料、導(dǎo)熱散熱材料等都將在5G應(yīng)用中發(fā)生改變。

5G要求更高的電磁波傳輸速度、更小的信號傳播損失，這意味著應(yīng)用材料的介電常數(shù)和介電損耗都要盡可能的小，薄膜正是滿足這些苛刻要求的材料。

由于薄膜材料厚度達(dá)到納米級，而介電損耗達(dá)到10-4以下，因此，目前的介電測試儀器無法滿足測試要求。

日本AET公司最新推出了介電常數(shù)測試新品，專門測試低介電常數(shù)和介電損耗的薄膜樣品。

該產(chǎn)品可測試頻率較好達(dá)到40GHz

介電常數(shù)范圍在Epsilon：1～5；  準(zhǔn)確度：accuracy： /- 1%，

介電損耗范圍在Tangent delta： 0.0001～0.01；準(zhǔn)確度accuracy： /- 5%。