ABR-1000雙折射應力儀規(guī)格書.pdf

ABR-1000 系列裝置能夠以 0.01nm  的線性解析度來測量被檢樣品的雙折射系數(shù)。雙折射作為光學相位 差被檢測，可同時測量樣品的雙折射主軸和延遲軸兩個方向，

由于通過雙折射測量可以有效地對光學材料的內部應力（失真）及聚合物膜的取向特性進行評估，因此， 雙折射測量被廣泛應用于材料研究部門以及制造過程中的質量管理。由于配備了標準的用戶友好應用程序軟    件，因此無需具備專業(yè)知識，任何人都可以很容易地進行操作。

l 主要特點

◎      高速測量：                        約 0.1 秒鐘／測量點（同時測量相位延遲和方位角）

◎      高線性解析度：                  雙折射相位差重復精度：±0.01 nm

主軸方位角重復精度：±0.2 o

◎      高精度，廣域動態(tài)范圍：   激光外差法

◎      測量位置確認：                  可以通過目測來確認測量位置

◎      操作簡單：                         由用戶友好式的操作畫面和顯示畫面組成

◎      適合質量管理

用途/應用實例 ◎ 液晶

? 液晶元件：

? 相位差薄膜：

◎  半導體

? 透鏡、襯底：

◎  光盤

? CD、DVD  用透明襯底：

? 光頭用部件：

◎  其他

?  大型玻璃塊

? 各種塑料透鏡：

? 各種光纖預制棒：

液晶的取向特性評估